公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では電子顕微鏡解析技術フォーラムを開催しています。

  電子顕微鏡解析技術分科会の主旨

  2017年夏の電子顕微鏡解析技術フォーラムについて

日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会では、機能性材料や電子デバイスの評価に関する身近な問題点を
ざっくばらんに話し合う場として《電子顕微鏡解析技術フォーラム》を開催いたします。
夏のフォーラムではテーマ「複合材料の解析―界面から何が分かるか―」と題し、材料の高性能化、製品の軽量化の
要となる複合材料、異種物質の接合・接着界面を取り上げ、材料開発と電子顕微鏡解析・関連する評価手法、更には
接合(接着)メカニズムの考察についてとことん議論します。
このフォーラムの特色である“ざっくばらんトーク”では、参加者の皆様が抱えている課題や疑問点を発表していただき、
今後のご研究に役立つ議論をいたします。また、皆様の日頃のご研究成果などを発表していただく解析事例の紹介や
課題の提案も募集します。
電子顕微鏡に携わる皆様、接合・接着界面の解析・評価にご興味のある方、ふるってご参加ください!


1.
主 催:公益社団法人 日本顕微鏡学会・電子顕微鏡解析技術分科会

2.
日 時:2017825日(金)13:00 826日(土)17:00予定(12日)
                       
 
講演会場:セイコーエプソン本社エプソンホール(長野県諏訪市)
 
宿泊会場:上諏訪温泉 浜の湯 長野県諏訪市湖岸通り3丁目3-10

3.
プログラム (プログラムの追加および内容を更新しました。)
 
チュートリアル
    
MeVイオンビーム分析法による薄膜積層Liイオン電池の電極・電解質内およびその界面におけるLi濃度分布の動的解析
                                                                                                                           森田 健治(名古屋産業科学研究所)
    
電子顕微鏡による高分子界面の解析と接着メカニズムの解明
                                                                                                                           堀内 伸(産業総合技術研究所)
    
ナノ触診原子間力顕微鏡で調べる複合材料の界面の力学物性
                                                                                                                           中嶋 健(東京工業大学)
 
 
トピックス
    
・直交型FIB-SEMEDX分析を用いたタイヤスチールコード/ゴム界面の3次元構造解析
                                                                                                                           網野 直也(横浜ゴム)
    
・電子線ホログラフィー、DPC等の電子顕微鏡による半導体の電位分布観察
                                                                                                                           佐々木 宏和(古河電工)
    
STEMトモグラフィを用いたバルクへテロ型有機薄膜太陽電池材料の3次元評価
                                                                                                                           村上 和歌子(リコー)
    
・アルミニウムと窒化アルミニウム接合界面の解析と実製品への応用
                                                                                                                           千葉 一(三菱マテリアル)
    
・樹脂めっき界面の微細構造解析と密着力評価
                                                                                                                           八木 祐介(豊田中央研究所)

  チュートリアル、トピックス講演のアブストラクト

 
解析事例の紹介2件のご講演を予定しております。)
 
ざっくばらんトーク

4.
参加費:参加費(宿泊費を含む):
        25,000
円(日本顕微鏡学会個人・法人・協賛会員・学生)
        30,000
円(会員外)

5.
定 員:50

6.
申込み締切り:2017731日(月) (定員になり次第締め切ります)
     
参加ご希望の方は、こちらの申込書に必要事項を記入し、E-mailFAX等で下記までお送り下さい。
 問い合わせ先および申込み先:
  日鉄住金テクノロジー(株) 水尾 有里 mizuo-yuri@nsst.jp
   電話: 080-4602-3976 ファクシミリ:0439-80-2733

7.
「解析事例の紹介」の公募は締め切りました。


<
電子顕微鏡解析技術分科会責任者> 長澤忠広(ライカマイクロシステムズ)
<
実行委員長> 乾光隆(セイコーエプソン)
<
電子顕微鏡解析技術フォーラム実行委員> 石丸 雅大(コベルコ科研)、大森典子(クアーズテック)、木村耕輔(東レリサーチセンター)、
工藤 修一(東芝)、久芳 聡子(日本電子) 、白井学(日立ハイテクノロジーズ)、高橋知里(愛知学院大学) 、白井学(日立ハイテクノロジーズ)、
丸山秀夫(カネカテクノリサーチ)、水尾有里(日鉄住金テクノロジー)、宮澤 知孝(東京工業大学) 、武藤 俊介(名古屋大学)、
和田 充弘(三井金属)

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